Ringlichter - ESD (antistatisch)

Beleuchtung für Arbeitsplätze

Ringlichter beleuchten Objekte koaxial zum Kamera- oder Mikroskopobjektiv und vermeiden damit Schattenwurf und einseitige Reflexe. Das Sortiment umfasst LED-Ringlichter von Starlight mit Durchmessern ab 8 mm (100-003895) bis zu Modellen für Spanndurchmesser 80 mm (100-010165), ergänzt durch Segmentringlichter, faseroptische Ringlichter (Starlight SRL6) und Ringspaltleuchten (4H Jena RSL 66 mit flexiblem Lichtleiter). Farbtemperaturen reichen von natur-weiß (5.600 K) über pur-weiß (6.000-6.500 K) bis zu segmentiert steuerbaren Varianten (Zeiss 435525-9050-000).

Reduzierringe ermöglichen die Anpassung handelsüblicher 66-mm-Ringlichter auf Objektivdurchmesser von 50 bis 62 mm in 2-mm-Schritten (100-003976 bis 100-003980). Kompatible Fabrikate sind Starlight, Zeiss, Vision (Lynx EVO, SX-Serie), Eschenbach und Leica.

LED-Ringlichter Starlight RL4/RL5/RL12 - Durchmesser 8 mm bis Spanndurchmesser 80 mm, 5.600-6.500 K
Reduzierringe 66-mm-Standard - Adaptersätze für 50/52/54/56/58/60/62 mm, werkzeuglose Montage
Zeiss Spaltringleuchte 1500 ECO (435540-9006-000) - für Zeiss-Mikroskopachsen, koaxiale Beleuchtung
Zeiss LED-Ringleuchte segmentierbar (435525-9050-000) - gerichtete Beleuchtung aus Quadranten wählbar
🛡 Faseroptik RSL 66 (4H Jena) - Ringspaltleuchte mit flexiblem Lichtleiter, thermisch entkoppelte Beleuchtung
📦 Vision Lynx EVO / SX-Serie - Ringlichter für Vision Stereo-Makroskope, inkl. Netzteil
KriteriumEmpfehlung
ObjektivdurchmesserRinglicht direkt nach Spanndurchmesser wählen oder 66-mm-Modell mit Reduzierring kombinieren
FarbtemperaturPur-weiß 6.500 K (RL4-66W) für hohe Farbkonstanz, natur-weiß 5.600 K (RL5-81 NW) für neutralen Weißabgleich
SegmentierungZeiss 435525-9050-000 für gerichtete Streiflichter aus einzelnen Quadranten
Wärmeempfindliche ObjekteFaseroptik RSL 66 (4H Jena) für thermisch entkoppelte Beleuchtung ohne Eigenerwärmung
Mikroskop-FabrikatZeiss-Ringleuchten für Zeiss-Achsen, Vision EVR050 für Vision Lynx EVO

Typische Einsatzbereiche: Schadensanalyse und Qualitätsprüfung von SMD-Bauteilen und Lötverbindungen unter Stereo- und Auflichtmikroskopen, maschinelles Sehen in automatisierten Prüf- und Bestückungslinien, Oberflächeninspektion (Kratzer, Risse, Maßkontrolle) in der Feinmechanik sowie Dokumentationsaufnahmen in Labor und Forschung.

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