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Automatisches Nivellier mit 32-facher Vergrößerung und innenliegendem Glaskreis für Horizontalwinkel. Es liefert bis zu 0,7 mm Standardabweichung je Doppelkilometer, mit Planplattenmikrometer 0,3 mm. Die Teilung beträgt 1 gon, geschätzt wird auf 10 mgon. Damit sind Höhe, Winkel und Distanz mit einem Gerät aufnehmbar.

Automatisches Präzisionsnivellier 32-fach mit Glaskreis - Leica NAK2 400 gon

LEICA GEOSYSTEMS Originalprodukt
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Artikel LEI-352039
Hersteller-Nr. 352039
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ZustandNeu
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LEI-352039
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Wer neben Höhen auch Richtungen braucht, stellt sonst einen zweiten Aufbau hin. Das Leica NAK2 vereint beides, ein Präzisionsnivellier mit bis zu 0,7 mm Standardabweichung je Kilometer Doppelnivellement und einen internen Glaskreis mit 400-gon-Teilung, abgelesen über ein Skalenmikroskop.

Vorteile

  • Innenliegender Glaskreis mit 70 mm Teilungsdurchmesser, abgelesen über ein Skalenmikroskop. Die Teilung beträgt 1 gon, geschätzt wird auf 10 mgon. Damit ersetzt das NAK2 bei einfachen Detailaufnahmen den zusätzlichen Theodolit.
  • Bis 0,7 mm Standardabweichung je Kilometer Doppelnivellement, je nach Latte und Verfahren. Mit dem Planplattenmikrometer GPM3 sinkt der Wert auf 0,3 mm.
  • 32-fache Vergrößerung bei 45 mm freier Objektivöffnung für ein helles, aufrechtes Bild. Die Okulare FOK73 mit 40-facher und FOK117 mit 25-facher Vergrößerung lassen sich in Sekunden wechseln.
  • Kompensator mit plus/minus 30 Winkelminuten Arbeitsbereich und 0,3 Bogensekunden Einspielgenauigkeit, pneumatisch gedämpft und gegen Magnetfelder abgeschirmt. Auf nachgebendem Untergrund bleibt die Ziellinie waagerecht, statt wie bei einer Röhrenlibelle ständig nachgestellt werden zu müssen.
  • Drucktaste unter dem Okular prüft den Kompensator. Das Lattenbild schwingt aus und läuft ruhig zurück, die Kontrolle dauert unter einer Sekunde.
  • Kürzeste Zielweite 1,6 m, Multiplikationskonstante 100, Additionskonstante 0, so lassen sich Winkel, Distanz und Höhe in einem Zug aufnehmen und polar auftragen.

Technische Daten

MerkmalWert
Bauartautomatisches Nivellier mit Pendelkompensator
Standardabweichung 1 km Doppelnivellementbis 0,7 mm, je nach Latte und Verfahren
Standardabweichung mit Planplattenmikrometer0,3 mm
Fernrohrbildaufrecht
Vergrößerung Standardokular32-fach
Vergrößerung optionale Okulare40-fach (FOK73), 25-fach (FOK117)
Freie Objektivöffnung45 mm
Sehfeld auf 100 m2,2 m
Kürzeste Zielweite1,6 m
Multiplikationskonstante100
Additionskonstante0
Arbeitsbereich Kompensatorplus/minus 30 Winkelminuten
Einspielgenauigkeit Kompensator0,3 Bogensekunden (Standardabweichung)
Kompensatordämpfungpneumatisch, gegen Magnetfelder abgeschirmt
KompensatorkontrolleDrucktaste unter dem Okular
StrichplatteHorizontalstrich, Keilstrich für Invarlatten, Distanzstriche
Horizontaltriebendlos, beidseitige Knöpfe
Empfindlichkeit Dosenlibelle8 Winkelminuten je 2 mm
SchutzartIP53
Betriebstemperatur-20 °C bis +50 °C
Lagertemperatur-40 °C bis +70 °C
HorizontalkreisGlaskreis, 400 gon
Teilungsdurchmesser70 mm
Teilungsintervall1 gon
Ablesung durch Schätzung10 mgon
KreisablesungSkalenmikroskop
KreisorientierungRing am Instrumentenfuß, auf jeden Wert einstellbar

Einsatzbereiche

Detailaufnahmen nach dem Polarverfahren mit Winkel, Distanz und Höhe, Absteckung rechter Winkel und Achsen im Hoch- und Tiefbau, Präzisionsnivellements und Setzungsüberwachung, Ausrichtung von Maschinenfundamenten und Kranbahnen, Höhennetze im Ingenieurbau.

Kompatibilität und Lieferumfang

Das NAK2 arbeitet mit den Planplattenmikrometern GPM3 (Ablesung 0,1 mm, Schätzung 0,01 mm) und GPM6 (Ablesung 0,2 mm, Schätzung 0,05 mm) sowie mit den Wechselokularen FOK73 und FOK117. Für Präzisionsmessungen sind Invarlatten mit Keilstrichablesung vorgesehen. Geliefert wird das Instrument im schaumstoffgepolsterten Transportkoffer aus hochwertigem Kunststoff.

Normen und Herkunft

Schutzart IP53 gegen Staub und Spritzwasser. Betriebstemperatur -20 °C bis +50 °C, Lagerung -40 °C bis +70 °C. Fertigung von Leica Geosystems AG, Heerbrugg, Schweiz, nach ISO 9001 und ISO 14001. Materialnummer 352039.

Weitere Informationen
Zertifikat ISO 9001, ISO 14001
Hersteller-Nr. 352039
Hersteller Leica Geosystems
GPSR Herstellerdaten A1-ESD equipment GmbH. Keldersstr. 15, DE-42697 Solingen, www.esd.equipment
Artikel-Authentizität Originalprodukt
Artikelzustand Neu
Schutzart IP53