Abbildungen dienen ausschließlich zur Veranschaulichung und können vom tatsächlichen Produkt abweichen. Einzelne Bilder wurden ganz oder teilweise mit Systemen der künstlichen Intelligenz erzeugt oder nachbearbeitet. Maßgeblich sind die technischen Angaben in der Produktbeschreibung.
Planplattenmikrometer, das vor das Objektiv der Nivelliere NA2 und NAK2 gesetzt und mit dem Knopf geklemmt wird. Durch Kippen der planparallelen Glasplatte wird die Zielachse parallel verschoben, der Betrag wird an einer eigenen Skala direkt auf 0,1 mm abgelesen und auf 0,01 mm geschätzt. Damit wird aus dem Ingenieurnivellier ein Präzisionsnivellier für Deformations- und Industriemessungen.

Planplattenmikrometer 10 mm Messbereich mit Ablesung 0,1 mm für NA2 und NAK2 - Leica GPM3

LEICA GEOSYSTEMS Originalprodukt
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Artikel LEI-356121
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LEI-356121
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Ein Nivellier liest an der Lattenteilung nur so fein ab, wie die Teilung es zulässt, und für Setzungsmessungen im Zehntelmillimeterbereich ist das zu grob. Das Leica GPM3 löst das mechanisch, es wird auf das Objektiv des NA2 oder NAK2 gesetzt und mit dem Knopf in Stellung geklemmt. Ein Dreh am Mikrometerknopf kippt die planparallele Glasplatte, die Zielachse wandert parallel nach oben oder unten, bis der nächste Teilungsstrich exakt getroffen ist. Die Verschiebung selbst wird an einer eigenen Skala abgelesen, direkt auf 0,1 mm und geschätzt auf 0,01 mm.

Vorteile

  • Messbereich 10 mm, das deckt den vollen Abstand zwischen zwei Teilungsstrichen einer Präzisionslatte ab, es bleibt kein Rest ungemessen.
  • Ablesung direkt auf 0,1 mm mit Schätzung auf 0,01 mm, statt einer groben Schätzung an der Lattenkante.
  • 0,3 mm pro Kilometer im Doppelnivellement, diese Standardabweichung erreichen NA2 und NAK2 erst zusammen mit dem GPM3.
  • Aufsetzen statt Umbau, das Mikrometer wird auf das Objektiv geschoben und mit einem Knopf geklemmt, das Instrument bleibt im Übrigen unverändert.
  • Eigenes Ableseokular, die Mikrometerskala wird getrennt vom Fernrohrbild betrachtet, was Verwechslungen beim Ablesen vermeidet.

Technische Daten

MerkmalWert
TypPlanplattenmikrometer
Bezeichnung HerstellerGPM3 10 mm Planplattenmikrometer
Messbereich10 mm
Ablesung direkt0,1 mm
Schätzung0,01 mm
WirkprinzipKippen einer planparallelen Glasplatte, Parallelverschiebung der Zielachse
MontageAufsetzen auf das Fernrohrobjektiv, Klemmung über Knopf
Ablesung der Skalaeigenes Okular am GPM3
Passend fürLeica NA2, Leica NAK2
Genauigkeit im Doppelnivellement0,3 mm pro Kilometer (NA2 oder NAK2 mit GPM3)
Lieferungim Behälter
MarkeLeica Geosystems
Materialnummer356121

Einsatzbereiche

Setzungs- und Deformationsmessungen an Bauwerken, Brücken und Dämmen, Höhenüberwachung von Gleisanlagen und Kranbahnen, Ausrichten von Maschinenfundamenten und Fertigungslinien, Präzisionsnivellement in geodätischen Festpunktnetzen, Kontrollmessungen im Industriemessraum.

Kompatibilität und Lieferumfang

Das GPM3 ist für die Nivelliere Leica NA2 und NAK2 vorgesehen und wird auf deren Objektiv aufgesetzt. Sinnvoll ergänzt wird es durch das Wechselokular Leica FOK73 (Materialnummer 346475), das die Fernrohrvergrößerung von 32-fach auf 40-fach anhebt, sowie durch eine Präzisions- oder Invarlatte mit passender Teilung. Geliefert wird das Planplattenmikrometer mit einem Messbereich von 10 mm im Behälter.

Herkunft

Originalzubehör von Leica Geosystems, Materialnummer 356121.

Weitere Informationen
Hersteller-Nr. 356121
Hersteller Leica Geosystems
GPSR Herstellerdaten A1-ESD equipment GmbH. Keldersstr. 15, DE-42697 Solingen, www.esd.equipment
Artikel-Authentizität Originalprodukt
Artikelzustand Neu