Automatisches Präzisionsnivellier 32-fach, 0,7 mm je Doppelkilometer - Leica NA2

Setzungsmessungen, Maschinenfundamente und Feinnivellements verlangen ein Instrument, das über den ganzen Messtag reproduzierbar bleibt. Das Leica NA2 liefert dafür bis zu 0,7 mm Standardabweichung je Kilometer Doppelnivellement und mit aufgesetztem Planplattenmikrometer 0,3 mm, bei 32-facher Vergrößerung und 45 mm Objektivöffnung.

Vorteile

• Bis 0,7 mm Standardabweichung je Kilometer Doppelnivellement, je nach Latte und Verfahren. Mit dem Planplattenmikrometer GPM3 sinkt der Wert auf 0,3 mm, damit deckt ein Instrument Bauabsteckung und Feinnivellement ab.
• 32-fache Vergrößerung bei 45 mm freier Objektivöffnung ergibt ein helles, aufrechtes Bild auch bei schwachem Licht. Das Okular lässt sich in Sekunden tauschen, FOK73 mit 40-facher Vergrößerung für Feinstnivellements, FOK117 mit 25-facher bei Flimmern über heißem Untergrund.
• Kompensator mit plus/minus 30 Winkelminuten Arbeitsbereich und 0,3 Bogensekunden Einspielgenauigkeit. Das Pendel hängt an vier Bändern aus einer Speziallegierung, ist pneumatisch gedämpft und gegen Magnetfelder abgeschirmt.
• Drucktaste unter dem Okular prüft den Kompensator. Das Lattenbild schwingt sichtbar aus und läuft ruhig zurück. Die Kontrolle dauert unter einer Sekunde und zeigt zugleich, ob die Dosenlibelle noch einspielt.
• Kürzeste Zielweite 1,6 m und Multiplikationskonstante 100, dadurch sind enge Aufstellungen und optische Distanzabgriffe über die Distanzstriche möglich.
• Strichplatte mit Keilstrich für Invarlatten neben Horizontal- und Distanzstrichen, die Voraussetzung für Präzisionsnivellements. Der endlose Horizontaltrieb mit beidseitigen Knöpfen lässt sich aus jeder Standposition bedienen.

Technische Daten

Einsatzbereiche

Präzisionsnivellements und Setzungsüberwachung an Bauwerken, Brücken und Dämmen, Ausrichtung von Maschinenfundamenten und Kranbahnen, Höhennetze im Ingenieurbau, Tiefbau und Tunnelbau, Absteckung im Hoch- und Straßenbau sowie Kontrollmessungen mit Invarlatte.

Kompatibilität und Lieferumfang

Das NA2 arbeitet mit den Planplattenmikrometern GPM3 (Ablesung 0,1 mm, Schätzung 0,01 mm) und GPM6 (Ablesung 0,2 mm, Schätzung 0,05 mm) sowie mit den Wechselokularen FOK73 und FOK117. Für Präzisionsmessungen sind Invarlatten mit Keilstrichablesung vorgesehen, für allgemeine Arbeiten normale Nivellierlatten. Geliefert wird das Instrument im schaumstoffgepolsterten Transportkoffer aus hochwertigem Kunststoff.

Normen und Herkunft

Schutzart IP53 gegen Staub und Spritzwasser. Betriebstemperatur -20 °C bis +50 °C, Lagerung -40 °C bis +70 °C. Fertigung von Leica Geosystems AG, Heerbrugg, Schweiz, nach ISO 9001 und ISO 14001. Materialnummer 352036.